X射線(xiàn)評(píng)價(jià)輸出系統(tǒng)是指利用X射線(xiàn)穿透金屬材料，將穿過(guò)金屬材料之后的射線(xiàn)強(qiáng)度分布轉(zhuǎn)變?yōu)殡娨晥D像,從而顯示圖像缺陷，此時(shí)射線(xiàn)強(qiáng)度會(huì)增強(qiáng)數(shù)千倍，以此觀察工件的圖像，據(jù)此來(lái)判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗(yàn)設(shè)備。X射線(xiàn)源是產(chǎn)生射線(xiàn)的裝置，當(dāng)X射線(xiàn)穿透被測(cè)產(chǎn)品后，被產(chǎn)品另一邊的X射線(xiàn)探測(cè)器接收，探測(cè)器把不可見(jiàn)的X射線(xiàn)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，再經(jīng)過(guò)工作站（計(jì)算機(jī)）處理后，將數(shù)字圖像顯示在顯示器屏幕上，可直觀的看到被測(cè)產(chǎn)品內(nèi)部的缺陷性質(zhì)、大小、位置等信息。

　　X射線(xiàn)評(píng)價(jià)輸出系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)：

　　1、具有外置雙通道探測(cè)器接口，可同時(shí)附加第二通道劑量探測(cè)器。

　　2、數(shù)據(jù)傳輸應(yīng)用直接有線(xiàn)連接，高速數(shù)據(jù)傳輸技術(shù)?？烧嬲龅?.1ms探測(cè)技術(shù)。

　　3、可實(shí)時(shí)顯示劑量及kVp波形，方便分析。波形圖Z小分辨時(shí)間為0.1毫秒。

　　X射線(xiàn)評(píng)價(jià)輸出系統(tǒng)圖像形成的基本原理是由于X射線(xiàn)的特性以及部件的密度和厚度的差異。目前X射線(xiàn)檢測(cè)設(shè)備都可以實(shí)時(shí)成像，極大地提高了檢測(cè)效率。它可分為質(zhì)量檢測(cè)、厚度測(cè)量、物品檢查、動(dòng)態(tài)研究等四類(lèi)應(yīng)用。質(zhì)量檢測(cè)廣泛應(yīng)用于鑄造、焊接工藝缺陷檢測(cè)、工業(yè)、鋰電池、電子半導(dǎo)體領(lǐng)域。厚度測(cè)量可用于在線(xiàn)，實(shí)時(shí)，非接觸式厚度測(cè)量。物品檢查可用于機(jī)場(chǎng)、車(chē)站、海關(guān)查驗(yàn)、結(jié)構(gòu)尺寸的確定。動(dòng)態(tài)研究可用于研究動(dòng)態(tài)過(guò)程，如彈道、爆炸、核技術(shù)和鑄造技術(shù)。